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山田光學(xué) 350W鹵素?zé)艄庠?200W鹵素光源 JCR15V150W ELC24V250W yamada-opt山田光學(xué)工業(yè)YAMADA KOGAKU高輝度鹵素光源裝置,主要應(yīng)用于半導(dǎo)體晶圓及液晶基板加工過(guò)程中的最終表面檢查環(huán)節(jié),用于輔助檢測(cè)表面異物、劃痕、研磨不均、霧度及滑移等缺陷。
更新時(shí)間:2026-04-13yamada山田光學(xué)40萬(wàn)Lx鹵素冷光源瑕疵檢測(cè)燈 YP系列 YP-150ID YP-250I yamada-opt山田光學(xué)工業(yè)YAMADA KOGAKU高輝度鹵素光源裝置,主要應(yīng)用于半導(dǎo)體晶圓及液晶基板加工過(guò)程中的最終表面檢查環(huán)節(jié),用于輔助檢測(cè)表面異物、劃痕、研磨不均、霧度及滑移等缺陷。
更新時(shí)間:2026-04-13山田光學(xué) 外觀顯微觀察表面檢查燈 亮度可調(diào) 雙光源 YP-150ID YP-250I yamada-opt山田光學(xué)工業(yè)YAMADA KOGAKU高輝度鹵素光源裝置,主要應(yīng)用于半導(dǎo)體晶圓及液晶基板加工過(guò)程中的最終表面檢查環(huán)節(jié),用于輔助檢測(cè)表面異物、劃痕、研磨不均、霧度及滑移等缺陷。
更新時(shí)間:2026-04-13山田光學(xué) 8英寸晶圓拋光缺陷檢查燈<0.2μm YP-150I YP-150ID YP-250I yamada-opt山田光學(xué)工業(yè)YAMADA KOGAKU高輝度鹵素光源裝置,主要應(yīng)用于半導(dǎo)體晶圓及液晶基板加工過(guò)程中的最終表面檢查環(huán)節(jié),用于輔助檢測(cè)表面異物、劃痕、研磨不均、霧度及滑移等缺陷。
更新時(shí)間:2026-04-13YAMADA KOGAKU山田光學(xué) 高功率檢查燈 YP-150I YP-150ID YP-250I yamada-opt山田光學(xué)工業(yè)YAMADA KOGAKU高輝度鹵素光源裝置,主要應(yīng)用于半導(dǎo)體晶圓及液晶基板加工過(guò)程中的最終表面檢查環(huán)節(jié),用于輔助檢測(cè)表面異物、劃痕、研磨不均、霧度及滑移等缺陷。
更新時(shí)間:2026-04-13山田光學(xué)半導(dǎo)體晶圓劃痕拋光不均霧狀檢查燈 YP-150I YP-150ID YP-250I yamada-opt山田光學(xué)工業(yè)YAMADA KOGAKU高輝度鹵素光源裝置,主要應(yīng)用于半導(dǎo)體晶圓及液晶基板加工過(guò)程中的最終表面檢查環(huán)節(jié),用于輔助檢測(cè)表面異物、劃痕、研磨不均、霧度及滑移等缺陷。
更新時(shí)間:2026-04-13山田光學(xué) 晶圓硅片碳化硅φ30-60異物檢查燈 YP-150I YP-150ID YP-250I yamada-opt山田光學(xué)工業(yè)YAMADA KOGAKU高輝度鹵素光源裝置,主要應(yīng)用于半導(dǎo)體晶圓及液晶基板加工過(guò)程中的最終表面檢查環(huán)節(jié),用于輔助檢測(cè)表面異物、劃痕、研磨不均、霧度及滑移等缺陷。
更新時(shí)間:2026-04-13山田光學(xué) 黃光白光 雙光源鹵素檢查燈 YP-150I/YP-250I yamada-opt山田光學(xué)工業(yè)YAMADA KOGAKU高輝度鹵素光源裝置,主要應(yīng)用于半導(dǎo)體晶圓及液晶基板加工過(guò)程中的最終表面檢查環(huán)節(jié),用于輔助檢測(cè)表面異物、劃痕、研磨不均、霧度及滑移等缺陷。
更新時(shí)間:2026-04-13日本山田光學(xué)YAMADA高照度鹵素強(qiáng)光燈 光源 YP-150I/YP-250I yamada-opt山田光學(xué)工業(yè)YAMADA KOGAKU高輝度鹵素光源裝置,主要應(yīng)用于半導(dǎo)體晶圓及液晶基板加工過(guò)程中的最終表面檢查環(huán)節(jié),用于輔助檢測(cè)表面異物、劃痕、研磨不均、霧度及滑移等缺陷。
更新時(shí)間:2026-04-13山田光學(xué) 強(qiáng)光燈檢測(cè)晶圓表面硅渣 鹵素光源 YP-150I YP-150ID YP-250I yamada-opt山田光學(xué)工業(yè)YAMADA KOGAKU高輝度鹵素光源裝置,主要應(yīng)用于半導(dǎo)體晶圓及液晶基板加工過(guò)程中的最終表面檢查環(huán)節(jié),用于輔助檢測(cè)表面異物、劃痕、研磨不均、霧度及滑移等缺陷。
更新時(shí)間:2026-04-13